3D Dynamic Focus System FR15-F

Kuerz Beschreiwung:

3-Achs Oflehnung Unitéiten

Ënnerstëtzung Wellelängt: 1064nm

XY2-100 Protokoll

3D Dréckerei, Additiv Fabrikatioun

 


Produit Detailer

Produit Tags

产品介绍

Kompakt Design, einfach fir Integratioun

CNC she11, Stëbs Präventioun, kompakt Struktur, einfach ze integréieren.
Focal 1ength Dateschutz beim Schalten vum Aarbechtsfeld.

Einfach Aarbechtsfeld ze wiesselen

Den Upassungsknop gëtt benotzt fir tëscht verschiddenen Aarbechtsfelder ze wiesselen ouni Deeler ze ersetzen.

Waasserkühlungsdesign

Optional Waasserkühlungsdesign, et kann op Héichtemperaturdriftsufuerderunge applizéiert ginn.

Flexibel grouss Feld Veraarbechtung

Duebel dreiwend Z Achs dynamesch Fokusmodul Design, Äntwert Frequenz ≥100HZ @ ± 10 °, einfach Z Déift 150mm@300mmx300mm z'erreechen, op flaach Uewerfläch applizéiert, 3D Uewerfläch Héichgeschwindeg Veraarbechtung.

222

Highlight Applikatioun: 3D Dréckerei

FR15-F gëllt mat der dynamescher Fokussystem Kontroll, et kann an SLS, SLM applizéiert ginn.

333

Héich Präzisioun

Wéi d'Zuel vun de Veraarbechtungsschichten eropgeet, passt déi dynamesch Achs de Fokus koordinéiert un an ajustéiert de Fleck an Echtzäit. De Minimum Plaz vun FR15-F (F15) kann direkt erreechen 0. 018mm.

444

Héich Effizienz

Fir méi héich Veraarbechtungseffizienz ze verbesseren, entwéckelt FEELTEK d'Multi-Scanheads Léisung, wéi och seng entspriechend Plattform.

3D Uewerfläch Veraarbechtung

Héich Effizienz

De FR15-F applizéiert dynamesch Fokuskontrolltechnologie, brécht d'Begrenzung vun der traditioneller Marquage, a ka keng Verzerrungsmarkéierung an der 1arge-Skala Uewerfläch, 3D Uewerfläch, Schrëtt, Kegelfläch, Steigungsfläch an aner Objete maachen.

eweg

Applikatioun Highlight

3D Laser Marquage

Gravuren

  Kloerheet

  Präzisioun Schimmel

3D Uewerfläch Behandlung

Textur Veraarbechtung

  PCB Marquage

666

3D Dréckerei

777

Gravuren

Applikatioun Video

Produit Technesch Informatiounen

Artikelen Ausgangsspannung (VDC) ± 15VDC
Aktuell (A) 5A (2sets)
Protokoll XY2-100 Protokoll
Gewiicht (KG) 7.5
Gréisst (mm) 316,7*125*154,7(Pro) / 333,7*125*154,7(P2)
Optesch Spezifikatioune Ouverture Gréisst (mmm) 15
Input Strahl Duerchmiesser (mm) 8.5
Galvanometer Spezifikatioune Produit Linn Pro P2
Scanwinkel (°) ± 11 ± 11
Widderhuelbarkeet (μrad) 8 5
Max. Gain Drift (ppm/k) 100 50
Max.Offset Drift (μrad/k) 30 15
Laangfristeg Drift iwwer 8h (mrad) ≤0.2 ≤0.1
Tracking Feeler (ms) ≤0,23 ≤0,15
Max.Veraarbechtungsgeschwindegkeet (Charakteren/s) 560@200x200 650@200x200
Aarbechtsfeld & Punkt Duerchmiesser Aarbechtsfeld (mm) 100x100x20 200x200x60 300x300x150 400x400x150 500x500x150 600x600x150
Min.Spot Duerchmiesser@1/e2(mm) 0,018 0,033 0,046 0.059 0,072 0,085
Brennwäit (mm) 120 240 360 480 600 720

Mechanesch Zeechnen

111
222

  • virdrun:
  • Nächste:

  • Schreift Äre Message hei a schéckt en un eis